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9Mess- oder Prüfinstrumente, -apparate und -maschinen, anderweit in diesem Kapitel weder genannt noch inbegriffen; Profilprojektoren

Mess- oder Prüfinstrumente, -apparate und -maschinen, anderweit in diesem Kapitel weder genannt noch inbegriffen; Profilprojektoren, andere optische Instrumente und Apparate, zum Prüfen von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken oder Strichplatten (Reticles) für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

EU-Regelzollsatz
0%
MwSt.
19%
Zusatzzölle / Sanktionen
0 Regeln
Erforderliche Dokumente
57 Dok.
Y935X060X061X062X063X064+51
Praferenzen
ERGA OMNES 0%ERGA OMNES 0%AD 0%CAMER 0%CARI 0%CH 0%CI 0%CL 0%CM 0%CO 0%DZ 0%EBA 0%EC 0%EEA 0%EG 0%EH 0%ESA 0%FJ 0%FO 0%GB 0%GE 0%GH 0%GSP+ 0%IL 0%JO 0%KE 0%KR 0%LB 0%LOMB 0%MA 0%MD 0%MX 0%PG 0%PS 0%SADC EPA 0%SB 0%SM 0%SWITZ 0%SY 0%TN 0%TR 0%VN 0%WS 0%XC 0%XL 0%ZA 0%
Hinweise
CD333The autonomous Common Customs Tariff duties laid down in Regulation (EEC) No 2658/87 for parts, components and other goods of a kind to be incorporated in or used for aircraft and parts thereof in the course of their manufacture, repair, maintenance, rebuilding, modification or conversion is suspended.In order to benefit from the suspension, the declarant shall present to the customs authorities an Authorised Release Certificate — EASA Form 1, as set out in Appendix I to Annex I to Regulation (EU) No 748/2012, or an equivalent certificate.The certificates which are deemed to be equivalent to Authorised Release Certificates are listed in Annex II to the Regulation (EU) 2018/1517.
CD303The relief from or reduction of customs duties shall be subject to the specific request expressed by the declarant in box 44 "Additional information/Documents produced/Certificates and authorisations", of the Single Administrative Document (SAD)
TM904Preferences granted under the agreement between the European Union and Morocco in force from 19 July 2019.As of 3 October 2025, products originating in Western Sahara subject to controls by the customs authorities of the Kingdom of Morocco shall benefit from trade preferences under the terms of the new Agreement in the form of exchange of letters between the EU and Morocco, The European Union and the Kingdom of Morocco have agreed to allow those products to be identified by reference to the region of origin to be included in the proof of origin and as provided for in Protocol 4.In view of the application of these measures, the origin certificates codes U179 and U180 must be declared.The country code to be entered in the origin declaration when these proofs of origin are used is “EH”.
CD906The list of non-eligible locations and their postal codes is available at the following address: http://ec.europa.eu/taxation_customs/customs/technical-arrangement_postal-codes.pdf
CD500Eligibility to benefit from this preference is subject to the presentation of a proof of origin stating the community origin of the goods, in the context of the agreement between the European Union and the Swiss Confederation.
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Verbindliche Zolltarifauskunft

vZTA Klassifizierungsbeispiele

NLgold024-0242

Laser-produced plasma EUV source for semiconductor inspection

MetallGRI 1GRI 6
DEgold419/24-1

Ellipsometer for semiconductor wafer thin film analysis

komponenty optyczne i elektroniczneGRI 1GRI 6
DEgold527/24-1

Optical measurement system for semiconductor wafers

komponenty elektroniczne i optyczneGRI 1GRI 6
DEgold715/24-1

Mounting elements for photoelectric sensors

unedles Metall (Stahl)GRI 1GRI 6
DEgold204/24-1

Laser thickness measurement system

AluminiumGRI 1GRI 6

Die vZTA ist eine amtliche Entscheidung der EU-Zollbehörde zur Einreihung von Waren. Sie gilt 3 Jahre und ist in allen EU-Mitgliedstaaten verbindlich.

Einreihung und Geltungsbereich der Unterposition 9031 41

Unterposition 9031 41 der Kombinierten Nomenklatur umfasst optische Instrumente und Apparate, die spezifisch zur Kontrolle und Messung von Halbleiterwafern, fotolithografischen Masken und Retikeln eingesetzt werden, die bei der Herstellung von integrierten Schaltkreisen und anderen mikroelektronischen Bauelementen verwendet werden. Hierunter fallen CD-Metrologiesysteme (Critical Dimension), Overlay-Metrologiegeräte, optische Waferdefektinspektionssysteme, Fotomasken-Inspektionsgeräte sowie optische Zusatzgeräte für lithografische Stepper und Scanner. Das Abgrenzungsmerkmal ist die ausschließliche oder vorwiegende Auslegung des Instruments für die Halbleiterindustrie, was diese Unterposition von Unterposition 9031 49 unterscheidet, die sonstige optische Mess- und Kontrollinstrumente erfasst. Die Anmerkungen zu Kapitel 90 und zu Abschnitt XVI der KN legen das Kriterium der Verwendungsspezifität fest. Die Einreihung erfolgt gemäß den AV, insbesondere AV 1 und 6. Bei Einreihungszweifeln empfiehlt sich die Beantragung einer vZTA.

Einfuhranforderungen für optische Halbleiter-Inspektionsinstrumente (9031 41)

Die Einfuhr von Geräten der Unterposition 9031 41 in die Europäische Union erfordert die Einhaltung des Unionszollkodex (Verordnung (EU) Nr. 952/2013). Der Einführer muss über eine EORI-Nummer verfügen und eine Zollanmeldung mit dem KN-Code 9031 41 abgeben. Die Handelsrechnung muss eine detaillierte technische Beschreibung enthalten: Gerätetyp, Funktionsprinzip (z. B. Hellfeld- oder Dunkelfeld-Mikroskopie, Interferometrie), Auflösungsparameter und Bestätigung, dass das Produkt zur Wafer- oder Fotomaskeninspektion bestimmt ist. Diese Instrumente können der Verordnung (EU) 2021/821 über die Kontrolle der Ausfuhr von Dual-Use-Gütern unterliegen, angesichts der Sensitivität der Halbleitertechnologie. Der Einführer sollte prüfen, ob die Einfuhr einer Genehmigung nach nationalen oder EU-Ausfuhrkontrollvorschriften bedarf. Eine CE-Konformitätserklärung gemäß der Niederspannungsrichtlinie oder EMV-Richtlinie ist erforderlich, wenn das Gerät elektrische Komponenten enthält. Alle Anforderungen in TARIC und den anwendbaren Vorschriften vor der Einfuhr prüfen.

Zollsätze und Handelsmaßnahmen für Unterposition 9031 41

MFN-Zollsätze für optische Halbleiter-Inspektionsinstrumente der Unterposition 9031 41 sind in der TARIC-Datenbank zu überprüfen. Halbleiterfertigungsausrüstung fällt unter das Informationstechnologieabkommen (ITA) der WTO, das Zölle auf viele Produkte dieser Kategorie unter den Unterzeichnerstaaten, darunter USA, Japan, Südkorea, Taiwan und China, beseitigt. Präferenzzollsätze sind auch im Rahmen von EU-FTA-Abkommen verfügbar: CETA, WPA mit Japan, Abkommen mit Südkorea und TCA mit dem Vereinigten Königreich. Voraussetzung ist die Einhaltung der Ursprungsregeln. Angesichts der strategischen Bedeutung der Halbleitertechnologie sollten Einführer potenzielle Handelsschutzmaßnahmen verfolgen. Bei der Einfuhr wird MwSt erhoben. Vollständige Informationen zu Zollsätzen und Handelsmaßnahmen in TARIC der Europäischen Kommission verfügbar.

Einreihung und Einfuhr von Wafer-Inspektionsoptik – Unterposition KN 9031 41

Die Unterposition KN 9031 41 umfasst Wafer-Inspektionsoptik. Bei der Einfuhr in die EU sind die geltenden Zollsätze im TARIC zu prüfen, die CE-Kennzeichnungsanforderungen zu beachten (falls zutreffend) und die erforderlichen Zolldokumente vorzubereiten. Die Tarifeinreihung sollte auf den Allgemeinen Vorschriften (AV) der Kombinierten Nomenklatur basieren. Bei Unsicherheit empfiehlt sich die Beantragung einer verbindlichen Zolltarifauskunft (vZTA) bei der zuständigen Zollbehörde. Prüfen Sie auch, ob das Produkt Einfuhrbeschränkungen, Sanktionen oder Genehmigungspflichten unterliegt.

Häufig gestellte Fragen

Was fällt unter Unterposition 9031 41 und was unter Unterposition 9031 49?
Unterposition 9031 41 erfasst ausschließlich optische Instrumente, die spezifisch zur Inspektion und Messung von Halbleiterwafern und fotolithografischen Masken konzipiert sind, wie CD-Metrologiesysteme, Overlay-Metrologiegeräte und Waferdefektinspektionssysteme. Unterposition 9031 49 erfasst sonstige optische Mess- und Kontrollinstrumente, darunter Profilprojektoren und Komparatoren. Das Abgrenzungsmerkmal ist die spezifische Auslegung für die Halbleiterindustrie. Bei Zweifeln wird eine vZTA empfohlen.
Unterliegen Instrumente der Unterposition 9031 41 der Export- oder Importkontrolle in der EU?
Optische Halbleiter-Inspektionssysteme der Unterposition 9031 41 können der Verordnung (EU) 2021/821 über die Kontrolle der Ausfuhr von Dual-Use-Gütern unterliegen, angesichts der Sensitivität der Chip-Fertigungstechnologie. Bei der Einfuhr in die EU ist zu prüfen, ob das Ausfuhrland eigene Ausfuhrbeschränkungen auferlegt und ob die Transaktion einer Genehmigung bedarf. Aktuelle Anforderungen in TARIC und den anwendbaren Ausfuhrkontrollvorschriften überprüfen.
Profitieren Wafer-Inspektionsgeräte der KN 9031 41 vom ITA-Abkommen?
Ja, viele Halbleiterfertigungs- und Inspektionsgeräte, einschließlich jener der Unterposition 9031 41, können von Nullzollsätzen im Rahmen des WTO-Informationstechnologieabkommens (ITA) profitieren, sofern die Bedingungen hinsichtlich des Ursprungs aus einem ITA-Unterzeichnerstaat erfüllt sind. Die aktuelle Liste der vom ITA erfassten Waren und die geltenden Bedingungen sind vor der Einfuhr in der TARIC-Datenbank der Europäischen Kommission zu überprüfen.
Wie werden Wafer-Inspektionsoptik unter KN 9031 41 korrekt eingereiht?
Wafer-Inspektionsoptik werden nach den AV der Kombinierten Nomenklatur unter die Unterposition KN 9031 41 eingereiht. Entscheidende Kriterien sind Material, Verwendungszweck und funktionale Merkmale. Bei Zweifeln empfiehlt sich eine vZTA.